
產(chǎn)品中心
P產(chǎn)品分類RODUCT CATEGORY


TS3000ProbeSystem半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)?模塊量測-DC-IV/DC-CV/Pulsed-IV?高溫度范圍-60°C至300°C?大的靈活性?具有特定設(shè)計的電纜接口的與功能測試儀的小電纜距離
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
更新時間:2025-10-30
訪 問 量:547
立即咨詢
聯(lián)系電話:
TS3000 Probe System 半自動300mm探針臺測試系統(tǒng)

? 模塊量測 - DC-IV / DC-CV / Pulsed-IV
? 高溫度范圍-60°C至300°C
? 大的靈活性
? 具有特定設(shè)計的電纜接口的與功能測試儀的小電纜距離,可實現(xiàn)更好的測量方向性
? 小的卡盤到工作臺面高度可實現(xiàn)佳mmW和內(nèi)部節(jié)點探測
? 通過在內(nèi)部集成熱系統(tǒng)的冷卻器,將系統(tǒng)占地面積降至低
結(jié)合了MPI的IceFreeEnvironment™,TS3000可以在-60至300°C的寬溫度范圍內(nèi)對300mm的晶片進(jìn)行微型定位器和(或)探針卡測試,并具有在膠片框架上進(jìn)行探測的附加功能。






arlen.lin@szkesda.com
版權(quán)所有© 2026 深圳市科時達(dá)電子科技有限公司 All Rights Reserved 備案號:
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml