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日本JEOL場發(fā)射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F產(chǎn)品特點:電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域,作為研究開發(fā)和的分析工具被廣泛使用,其用途越來越廣
產(chǎn)品型號:
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
更新時間:2025-10-31
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日本JEOL 場發(fā)射電子探針顯微分析儀JXA-iHP200F

產(chǎn)品特點:
電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領(lǐng)域,作為研究開發(fā)和的分析工具被廣泛使用,其用途越來越廣。此外,在學(xué)術(shù)領(lǐng)域 ,地球空間科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域也在廣泛使用,礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等,期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應(yīng),在保持高局部微量元素分析性能的同時,追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP200F能更加有效地進行觀察分析操作,是更的一體化集成場發(fā)射EPMA。
* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱

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